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用0.4-3.OMeV质子轰击Dy和Ho靶,测得L-亚壳层的x-线产生截面。利用亚壳层荧光产额和Coster-Kronig跃迁几率的理论值,得到2S<sub>1/2</sub>、2P<sub>1/2</sub>和2P<sub>3/2</sub>亚壳层的电离截面。实验测得的电离截面以及它们的比值随入射质子能量变化的规律与ECPSSR理论预言值进行了比较。