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随着SoC的复杂度和规模的不断增长,SoC的测试变得越来越困难和重要。针对某复杂32-bit RISC SoC,提出了一种系统级DFT设计策略和方案。在该方案中,运用了多种不同测试设计方法,包括内部扫描插入、存储器内建自测试、边界扫描和功能测试矢量复用。结果显示,该策略能取得较高的测试覆盖率和较低的测试代价。