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以纯铁为熔剂，采用离心浇铸法制样，建立钨铁中钨元素的X射线荧光光谱快速分析方法。试验证明了熔融后钨元素在样品中的分布均匀性良好，熔融多次样品间不存在显著差异。同时，对样品中可能存在的谱线重叠干扰因素进行了试验测量和排除。试验采用国家标准样品及人工配置校准样品制作校准曲线，线性范围为50．00％-85．00％。用生产样品的重量法测定值与方法的分析值进行比对，差值在±0．20％以内，方法可以满足常规检测工作中对钨铁中钨含量的快速测定要求。