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本论文探讨了一种应用于绝缘材料厚度测量的高精度、低成本系统。本次设计首先将被测物体的厚度设计为电容电极距,并通过电路转化频率值,在经过AD采样电路后,信号输入FPGA进行处理。FPGA以其硬件的并行特点,快速实现系统自校准、实时测量、数据显示等功能。通过系统整体测试可以看到,本系统完成了微米级厚度的精确测量,可推广应用到相关的生产环节中。