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最近几十年来，开始采用新方法评估电子产品的可靠性。这种方法有时又称为内设式可靠性保障法或者新潮法。内设式法在方法论上与过去采用的方法具有显著的差异。传统方法的基础是测量实际组件的作用和测量它们的特性，以便预知其可靠性。评估可靠性使用最广的统计参数是故障数量水平，按照设想，它是组件整个寿命周期过程中的时间非零固定函数，但是最近这种方法遭到极其严厉的批评。首先引起疑问的是在寿命过程中存在故障的非零固定速率的概念。与传统方法相比，新的内设式方法具有两个基本典型特点。第一它的侧重点，不是测量影响其可靠性的组件特性