滑尺技术改善数字多道微分非线性

来源 :核电子学与探测技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:orangeboy2222
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为了改善数字多道系统的微分非线性,进一步提升系统的分析精度,在数字多道电路中植入滑尺技术,通过实际测试研究了滑尺技术对系统微分非线性的改善效果。结果表明,使用滑尺技术后系统的微分非线性得到明显改善,在滑移64道时系统的微分非线性由2.7%提高到1.1%。
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