带线法的测试范围和误差分析

来源 :华中理工大学学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:Lv619
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
介绍了在微波频率下用带线法测量复介电常数和复磁导率的测试原理。对测试范围和测试误差进行了讨论。适当地选择样品长度,复介电常数εr和复磁导率μr的测量误差可在±5%以内。测试范围与测试参数值的配合有关,该方法适合微波吸收材料和一般非低损耗材料的测量。
其他文献
利用脉冲激光剥蚀技术在抛光的硅片上制备出了Pb(Zr,Ti)O3铁电薄膜,经过淀积后的激光退火工艺,大大改善了这种膜的铁电性,研究了影响薄膜性能的多种因素,利用X射线衍射,分析了薄膜的结构,测量了
以自然景物三维显示为目标,针对透视图序列现场拍摄数量巨大的困难,提出运用新型视差梯度神经网络压缩透视图数量的构思,给出了拍摄的适定条件以避免遮挡问题。实验表明,该方法匹