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对4套不同来源的拟南芥冷胁迫芯片试验数据进行了统合分析，并与各试验单独分析的结果进行了比较．结果表明，那些在2个或2个以上试验中被同时检测到的“较可靠的”差异表达基因（ Differentially expressed gene ， DEG）大多数都能被统合分析检测出来，而那些只在1个试验中被检测到的“较不可靠的”DEG则大约只有1/4被统合分析检测到，说明统合分析适合于检测“较可靠的”DEG．在统合分析检测到的DEG中，约有9％是未被单独分析检测到的，其中包含6个与冷害胁迫直接相关的基因，说明统合分析还