针孔缺陷对集成电路功能成品率影响分析与仿真

来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:hdw1978
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对集成电路针孔缺陷引起功能成品率下降的模型进行了研究,给出了分析和仿真针孔功能成品率的两种计算方法-Monte-Carlo方法和关键面积提取方法,这对集成电路成品率设计和分析是非常重要的。
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