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在常规BiCMOS技术基础上,该文充分考虑了低温下MOS电流驱动能力增强,双极器件增益与频率性能退化,PN结正向导通电压增加和结电容减小等因素的影响,并由此建立起统一的低温BiCMOS数字电路延迟时间的非线性解析分析模型,所得到的有关结论对低温超高速BiCMOS电路的优化设计有现实的指导意义。