论文部分内容阅读
本文提出一种OFDM调制器的测量模型，该模型可有效地描述OFDM调制器测量系统普遍存在的弱频率选择性，进而在消除弱频率选择性的基础上得到更精确的测量结果。同时针对该模型提出一种测量方法，利用低峰谷比序列作为待测传输序列，从而在测量端可有效消除测量系统弱频率选择性。根据该模型，本文提出将弱频率选择性作为OFDM调制器的一项测量参数，从而更全面地反映OFDM调制器的性能。实际测量表明，本文提出的测量模型和方法可以精确地评估OFDM调制器的性能。