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研究了Al2O3掺杂对Y2O3稳定的ZrO2材料电导性能的影响。因为Al与自由氧离子空穴缔合的能力大于Y,所以YSZ的晶粒电导随Al2O3含量的增大而减小。Al2O3一方面能清除晶界上的SiO2,同时又与晶界中的氧离子空穴缔合,在这两方面影响下,随Al2O3含量的增大,晶界电阻先减小后增大。