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EMI的干扰源定位测试是电磁兼容测试的一个重要内容。传统的源定位测试方法对大型电子设备而言效率和准确率都有限。本文介绍一种新的定位方法，该方法基于计算两路同步褒收信号的相干函数，可以得到两路信号在频域上的相似性，从中可以判断在特定频点上两个信号的关联程度。该方法可以快速准确地从多个辐射源中找到影响最大的一个。利用虚拟仪器进行了模拟测试，得到了理想的结果，可以为实际应用提供参考。