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一、序言在进行质量分析时,我们经常使用统计过程控制(SPC,StatisticalProcess Control)的方法来分析影响产品质量的偶然因素,然而如果我们所用的测量系统本身也产生很大的误差,则在使用SPC时,偶然因素造成的误差就可能被测量系统的误差所掩盖,而无法及时发现并加以控制.