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本文提出了单通道电子倍增器探测效率的影响因素,通过对Philips X919BL单通道电子的检测效率的依赖性（CEM）在脉冲计数和模拟放大模式的研究,验证了喇叭,通道与通道边缘对电子探测效率的影响。对于影响因素的变化可能导致的光谱仪的效率受到损失,由相关存在引起的光谱变形的杂散磁场,以及与样品表面不同区域的光谱不能够再现,采取具体措施。