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本文继横向剖面法研究的基础，选取30°和60°倾斜良导体模型，利用有限元三维数值模拟方法，对比横向剖面电阻率成像方法与常规的电阻率层析成像方法的异常特征．研究结果表明：横向剖面法能对30°倾角断层进行定量化判定，对60°倾角断层的倾角无法定量化判定．常规方法则难以对断层的倾角进行定量化判定．为研究其变化原因，本文对定量化判定进行了几何解释．