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建立了内靶对兰州冷却储存环主环束流影响的单粒子跟踪模拟程序，对pellet小丸靶和碳靶对束流带来的负面影响进行了模拟研究，主要讨论CSRm内靶实验中的束流存活率和束流寿命状态。结果显示利用厚度为1×10^16atoms·cm^-2小丸内靶时，2．6GeV质子束流寿命在100s量级，而对于目前技术水平下的碳膜靶（厚度为5×10^17atoms·cm^-2）。质子束流寿命为S量级；束流寿命和束流能量基本成正比关系，束流寿命和内靶厚度近似成反比关系。