基于折叠集的混合模式BIST的低功耗设计

来源 :电子质量 | 被引量 : 0次 | 上传用户：wyfwin

【摘要】

：

文章提出了一种基于折叠集的混合模式BIST低功耗设计方案,该设计方案通过对混合模式BIST的优化设计,得到伪单输入跳变的测试向量集,从而达到降低待测电路功耗的目的.

【作者】

：

陈卫兵

【机构】

：

合肥工业大学计算机与信息学院

【出处】

：

电子质量

【发表日期】

：

2005年3期

【关键词】

：

低功耗设计 BIST 电路功耗混合模式测试向量跳变折叠输入设计方案文章 Low power design Folding Set Test p

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