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随着集成电路规模越来越大，系统的功能日益复杂，功能验证已成为整个设计流程的瓶颈。对于大规模的时序电路，传统基于状态空间遍历的等价性检验方法可能会遇到内存爆炸问题。为了降低等价性检验方法的复杂度，提高验证效率和处理大规模电路的能力，通常需要构造两个被验证电路的存储元素映射之间的映射关系，从而将时序电路等价性检验问题转化为组合电路等价性检验问题。较全面地介绍了时序电路等价性检验的基本方法及其研究进展，讨论了基于存储元素映射的时序电路等价检验方法的基本思想，并介绍了若干具有代表性的存储元素映射方法，展望了集成电