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用毫秒-脉冲热量计与接触温度计测量钼的比热和电阻率,温度计采用是W-Re热电耦,可在400~2500K温度范围内进行了研究。在温度高于1300K时,并联高温计测量加以修正,利用在这个温度国内所获得的热辐数据得出并讨论了钼的比热,电阻率,半球形总辐射率以及标准光谱辐射率,并将比热与标准参考数据作了比较。