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选用碱性硅酸盐溶液，对AZ31镁合金进行微弧氧化处理，获得了由厚度为3μm的致密层和厚度为22μm的疏松层组成的双层结构膜，主要由MgO、Mg2SiO4，Mg2SiO4组成．用测量阳极极化曲线与电化学阻抗谱（EIS）的方法研究了微弧氧化AZ31镁合金的电化学腐蚀行为．在pH12的0．5mol／LNaCl溶液中，微弧氧化AZ31镁合金阳极极化曲线由原始镁合金的活化溶解转变为自钝化-点蚀击穿过程，自腐蚀电流密度降低1个数量级．原始AZ31镁合金的EIS呈现一个容抗弧和一个感抗弧，发生均匀腐蚀，感抗弧的出现表明