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分析了空间辐射环境对SRAM型FPGA可靠性的影响,总结归纳了空间应用SRAM型FPGA的故障模式,供FPGA产品设计人员参考。
辐射效应对SRAM型FPGA可靠性的影响分析
【摘 要】
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分析了空间辐射环境对SRAM型FPGA可靠性的影响,总结归纳了空间应用SRAM型FPGA的故障模式,供FPGA产品设计人员参考。
【机 构】
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中国航天标准化与产品保证研究院,北京控制工程研究所
【出 处】
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质量与可靠性
【发表日期】
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2012年1期
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