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破坏性物理分析(DPA)作为一种有效的电子元器件批质量评价方法,近年来对促进我国元器件制造工艺的提高起到了很大的作用.对当前DPA技术所面临的一些问题进行了分析,并提出解决这些问题的方法和建议.
破坏性物理分析技术所面临的挑战和对策
【摘 要】
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破坏性物理分析(DPA)作为一种有效的电子元器件批质量评价方法,近年来对促进我国元器件制造工艺的提高起到了很大的作用.对当前DPA技术所面临的一些问题进行了分析,并提出解
【机 构】
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中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心
【出 处】
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电子产品可靠性与环境试验
【发表日期】
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2005年4期
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