由于憎水性的存在,硅橡胶绝缘子污秽中的盐分浸出(溶出)过程将比亲水性的无机材料绝缘子的更为复杂,需对硅橡胶绝缘子污秽盐分浸出过程及浸出的盐分量进行研究。为此提出硅橡胶绝缘子的有效等值附盐密度(effective equivalent salt deposit density,EESDD)的概念,用以表征硅橡胶绝缘子不同憎水性污秽层在受潮过程中的实际盐分溶出量,并提出了一种结合憎水性分级测试且便于实际操作的EESDD测量方法。人工污秽层与现场硅橡胶绝缘子污秽层的EESDD测量结果表明:相同憎水性污秽层的有效溶出盐分是等值附盐密度(equivalent salt deposit density,ESDD)所测得盐分的一部分,硅橡胶绝缘子EESDD与ESDD的比值约为50%~90%,且该比值随污秽层憎水性下降而升高,并且同类型污秽灰密与盐密之比较低(<4)时,其EESDD值相对较高。基于试验结果的分析指出,硅橡胶绝缘子污秽度测量应与其表面憎水性相结合,其爬电距离的配置应参考湿污秽层的有效等值附盐密度来确定。