【摘 要】
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本文将X射线小角度散射技术用于测定SiO_2凝胶颗粒的分布。为此,采用了对数正态分布拟合及分割分布函数两种散射强度解析方法。凝胶粒度分布结果表明这两种方法得出了相同的
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本文将X射线小角度散射技术用于测定SiO_2凝胶颗粒的分布。为此,采用了对数正态分布拟合及分割分布函数两种散射强度解析方法。凝胶粒度分布结果表明这两种方法得出了相同的计算结果,而且与TFM观察结果相吻合。
In this paper, small-angle X-ray scattering technique was used to determine the distribution of SiO 2 gel particles. For this reason, two analytical methods of logarithm normal distribution fitting and split distribution function are adopted. Gel particle size distribution results show that these two methods to obtain the same calculation results, and consistent with the TFM observations.
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