论文部分内容阅读
目前国内的ADC测试系统只针对某一单款或几款ADC芯片进行设计,缺少通用的ADC测试平台。因此,提出了一种基于ZYNQ+FPGA的ADC通用测试平台,包含ADC可调电源、数据采集电路及上位机3部分,可以实现对不同电压、不同接口的ADC进行测试。对比芯片厂家的datasheet文件,最终验证了本测试平台对于高速高精度ADC动态性能参数测试的可行性。