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利用Hopkinson杆对弹载加速度存储测试仪器电路模块常用的CPLD芯片，在未用环氧树脂胶灌封和不同方向（沿平行和垂直与冲击方向）灌封状态下进行了抗高g值冲击性能实验研究。结果表明：CPLD芯片具有很高的抗冲击性能，并且与冲击方向无关。在目前弹体侵彻各种目标时的加速度幅值范围内，CPLD芯片不会失效。