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颅脑结构的异常在胎儿神经系统发育异常中占有较大的比例，既往对胎儿神经系统异常的诊断仅局限于二维超声图像，诊断准确率低。三维多角度自由解剖成像技术及实时四维断层呈像技术的运用能够将胎儿颅脑结构清晰，立体的成像。从而直观诊断胎儿颅脑结构异常。提高产前诊断在胎儿颅脑领域酊水平。对优生优育、提高人口质量起到不可估量的作用。