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提出了一种片内存储器的可测性设计方法。在详细分析了边界扫描技术的结构,功能与控制原理的基础上,设计了一种存储器测试接口。该接口符合JTAG标准(IEEE1149.1标准),其中包含了标准的指令寄存器设计,用来控制访问不同的扫描链。在权衡了测试效率和芯片面积的基础上,提出了一种在线测试器电路的设计方法。实验表明,该测试电路可以以小的面积开销而节省大量测试时间。