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电路集成度在不断上升,电路测试的数据量也越来越大,为解决因此造成的自动测试设备（ATE）存储容量和带宽之间的矛盾,提出了一种复用片上网络（No C）架构,多扫描链测试集归并算法,提高了测试可访问性。将扫描链长度长但数量相同的测试集合并短的测试集,逐步将所有不同的测试集归并成一个测试集。实验表明,与同类经典方案相比,该方案的归并压缩率提高了7.6%。