【摘 要】
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采用双锁相环混频设计方案,设计了一种低相位噪声频率综合器,实现了单锁相环难以实现的低相位噪声指标。在系统理论分析的基础上,优化了电路布局,实际的电路尺寸为45.0mm×30
【机 构】
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中国电子科技集团公司第二十四研究所,
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采用双锁相环混频设计方案,设计了一种低相位噪声频率综合器,实现了单锁相环难以实现的低相位噪声指标。在系统理论分析的基础上,优化了电路布局,实际的电路尺寸为45.0mm×30.0mm×12.0mm,实现了小型化K波段低相位噪声频率综合器。对频率综合器电路进行了测试,输出信号相位噪声为-95dBc/Hz@1kHz和-99dBc/Hz@≥40kHz,杂散为-72dBc,完全满足设计指标的要求。
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ue＊M＃’＃dkB4＃＃8＃”专利申请号:00109“7公开号:1278062申请日:00.06.23公开日:00.12.27申请人地址:（100084川C京市海淀区清华园申请人:清华大学发明人:隋森芳文摘:本发明属于生物技