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介绍了X荧光光谱法对中低合金钢中Si、Mn、P、S、As、Ti、Ni和Cr8种化学成分的分析方法。选用国家标准样品建立工作曲线，利用经验系数法进行基体校正，谱线重叠校正、基体干扰校正等。结果采用国标样品标准值进行验证，并与火花源原子发射光谱法分析结果进行比较；实验证明，相对标准偏差均〈2％，准确度在允许偏差范围内，方法可靠性满足生产需求。加强了与直读光谱之间的比对实验，弥补了直读光谱维修期间的分析工作。