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随机测试向量产生时，一大部分的测试功耗是由于那些无贡献的测试向量所引起的。文中提出了一种基于测试片段间的转移低功耗BIST结构，该结构采用有效测试向量片段间转移的方式，除去了由随机产生而对故障覆盖率没有贡献的无效向量，并把有效测试向量片段以消耗功耗最小原则依次送入被测电路，减少了测试时间，在硬件代价不高的基础上有效降低了测试功耗。