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电弧熔炼方法合成了ＨｆＲｅＳｉ２，单晶Ｘ射线衍射方法测定了晶体结构。晶体学及结构修正参数；化学式，ＨｆＲｅＳｉ，Ｍｒ＝４２０．８７，正交晶系，ＴｉＭｎＳｉ２类型，（５５）Ｐｂａｍ，ａ＝０．９１４０（１）ｎｍ，ｂ＝１．００５１（２）ｎｍ，ｃ＝０．８０８（１）ｎｍ，Ｖ＝０．７４２４（３）ｎｍ＾３，Ｚ＝１２，Ｄｘ＝１１．２９７ｇ／ｃｍ＾３，μ＝９９．２５ｍｍ＾－１（λＭｏＫａ＝０．０７１０７ｎｍ），Ｆ（