论文部分内容阅读
文摘相对于公式法，双标记法解决了焦距和焦点位移测量误差所带来的问题。但此方法在射线检测领域普及程度并不高，其中原因，首先是原理较复杂，针对性研究少，其次是测量精度没有被量化，可信度不高。本文从公式法入手，通过对原理公式的变化分析和线性化分析，明晰了双标记法缺陷深度定位原理，推导了缺陷深度定位公式，利用简化模型，对双标记法的定位精度做了进一步的分析与计算，最后针对具体,~,P-a-测物，测试验证了双标记法的计算公式和测量精度，用理论和实践证明了方法和精度的可靠性。关键词X射线，缺陷深度，定位精度