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为研究超大磁阻材料的掺杂效应 ,我们测量了 (La1 -xYx) 2 / 3 Ca1 / 3 MnO3 系列样品的正电子寿命谱 ,并结合X射线衍射和电阻温度关系的测量结果 ,系统地研究了Y掺杂引起的样品局域电子结构和空位型缺陷的变化 ,并提出了局域电荷转移的观点 ,解释正电子体寿命的变化 .