论文部分内容阅读
对JWF150-1500型和JWF150-0.0015GHW型断路器并联电容器进行高压介质损耗试验,发现部分断路器并联电容器随电压升高介损值变化明显,存在离子性缺陷。通过数据和理论分析,解释了断路器并联电容器介质损耗随电压变化的原因及离子性缺陷对断路器并联电容器影响,并提出有效解决措施。结果表明：例行试验与投运前试验时10 kV下tanδ测量值偏差较大,且高压介损随电压变化下降明显的断路器并联电容器,可认定存在离子性缺陷。