Sol—gel法制备Pb(Zr0.53Ti0.47)O3铁电薄膜

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利用Sol—gel工艺在Pt/Ti/SiO2/si衬底上制备了Pb(Zr0.53Ti0.47)O3(PZT)薄膜,研究了退火温度、保温时间和薄膜厚度对其晶相、微观结构和铁电性能的影响。在500℃退火处理的PZT薄膜开始形成钙钛矿相;在550℃退火处理的PZT薄膜基本形成钙钛矿相结构;升高退火温度(500-850℃)、延长保温时间(30~150min)、增加薄膜厚度(120-630nm)都有利于PZT晶粒的长大。在650~750℃退火的PZT薄膜具有较好的铁电性能,保温时间对PZT薄膜的铁电性能影响不大,P
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