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CCD多晶硅栅条刻蚀的质量控制
CCD多晶硅栅条刻蚀的质量控制
来源 :半导体光电 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wn208001
【摘 要】
:
依据等离子刻蚀机设备在CCD 研制中所起的关键作用,对提高刻蚀多晶硅电极的质量作了一些探讨,并给出了解决办法和结果.
【作 者】
:
李平
张坤
汪朝敏
【机 构】
:
重庆光电技术研究所
【出 处】
:
半导体光电
【发表日期】
:
2002年3期
【关键词】
:
CCD
刻蚀比
均匀性
CCD etching ratio uniformity
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依据等离子刻蚀机设备在CCD 研制中所起的关键作用,对提高刻蚀多晶硅电极的质量作了一些探讨,并给出了解决办法和结果.
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