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提出了快中子γ产生截面测量实验中的一种寿命校正方法，能够充分利用飞行时间技术解决以下问题，从γ峰中分离瞬发和非瞬发成分，同时确定瞬发γ和非瞬发γ产额，提供了一种中子活化截面的在束测量手段，特别适用于短寿命γ产生截面测量，该方法用于铝样品在１４．９ＭｅＶ中子轰击下的活化截面的测量和数据处理，取得了满意的结果。