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实验利用热蒸发法,以Au覆盖的Si(111)片作为基底,在1 300℃对单质镓加热不同的时间,制备出了一种特殊的纳米同轴电缆结构,并通过SEM(scanning electron microscopy)、XRD(X-ray diffraction)、TEM(transmission electron microscopy)、EDS(energy dispersive spectroscopy)等多种检测手段对样品进行了表征.SEM图像表明该实验制备了大量直径在100~400 nm的纳米结构,而且不同的恒温