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针对传感器的输出随温度和电源的波动以及自身的某些特性的改变等因素而发生零点漂移现象，提出了一种对以上非目标量进行预测处理以消除它们对传感器输出影响的支持向量机（SVM）预测技术。这种方法不需要建立大量的观测样本，也不需要对观测样本进行特征提取就可以取得良好的改善效果，具有较好的实用价值。以2只半导体传感器为研究对象的测试结果表明：利用该方法使稳定性提高了6倍。同时，提出了2种优化算法：增量样本法和降一阶算法。