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介绍了数字集成电路测试的基本概念，包括测试的分类，以及可控性、可观性、可测性、故障、失效和缺陷等概念；概述了测试的基本过程及测试生成概念和原理；着重阐述了组合数字集成电路的各种测试生成算法，包括异或法、步尔差分法、路径敏化法、D算法、PODEM算法和FAN算法等，这些算法是测试图形生成的基本方法，在具体应用中可灵活选用。