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研究了频率在100k～1MHz下无损整蛋介电参数的变化情况,并对介电参数和新鲜品质随储存时间的变化规律进行了探索。结果表明：不同储存天数鸡蛋的相对介电常数值间有显著的差异性;随着储存时间的延长,鸡蛋新鲜度品质指标—蛋黄指数在下降,其中相对介电常数εr′和介质损耗因子Q与蛋黄指数有极显著的相关性。