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通过对边界扫描测试过程以及TAP的16种状态的分析，总结出边界扫描测试的核心操作，归纳出相应的核心指令．设计出一种边界扫描测试主控器的MCU控制器，并用FPGA实现。由于采用了控制器的实现方式以及具有扫描长度设置指令使得具有测试自动化程度高、灵活高效、成本低的优势。另外还单独配有指令用于和BIST功能配合。