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温度逆境胁迫后 ,黄瓜幼苗体内 O- ·2 的产生速率和 MDA含量均明显升高。温度逆境胁迫和常温恢复 2 d后 ,O- ·2 的产生速率都与各品系黄瓜幼苗对温度逆境的耐性呈负相关 ,说明在温度逆境胁迫过程中 ,活性氧确实是对黄瓜幼苗产生毒害的重要方式。在遭受温度逆境胁迫后 ,黄瓜幼苗体内酶促和非酶促防御系统均遭到破坏。As A含量、CAT和 POD活性均显著下降。低温胁迫后 ,对低温耐性强的品系 SOD活性上升 ,对低温耐性弱的品系 SOD活性降低。高温处理后 ,各品系 SOD活性均降低。表明膜系