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介绍了几种主要的VLSI可测性设计技术，如内部扫描法、内建自测试法和边界扫描法等，论述如何综合利用这些方法解决SOC内数字逻辑模块、微处理器、存储器、模拟模块、第三方IP核等的测试问题，并对SOC的可测性设计策略进行了探讨。
SOC的可测试性设计策略
【摘 要】
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介绍了几种主要的VLSI可测性设计技术，如内部扫描法、内建自测试法和边界扫描法等，论述如何综合利用这些方法解决SOC内数字逻辑模块、微处理器、存储器、模拟模块、第三方IP核
【机 构】
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杭州电子科技大学微电子CAD研究所
【出 处】
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半导体技术
【发表日期】
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2006年9期
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