内部扫描相关论文
随着集成电路设计和制造技术的不断进步，芯片的集成度和复杂度也以惊人的速度发展。芯片测试遇到了前所未有的挑战，测试费用越来越高......
该文在研究国外大规模集成电路可测性设计的成功案例的基础上,将这种新颖的设计方法学与设计实践相结合,依靠可测性分析和测试向量......
介绍了几种主要的VLSI可测性设计技术，如内部扫描法、内建自测试法和边界扫描法等，论述如何综合利用这些方法解决SOC内数字逻辑模块......
文章针对漏洞扫描器安全性的要求，设计了内部扫描数据的专用加密通道和开放加密通道。在定义内部扫描加密通道数据传输协议的基础上......
随着芯片规模的增大和复杂度的上升,片内信号的观测和控制更加困难,对芯片的测试及调试的难度也在不断上升,芯片的测试和调试问题......
EStar是国防科技大学计算机学院自主开发的一款高性能低功耗32位嵌入式微处理器。本文针对EStar微处理器的可测性设计和片上调试的......
