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以光刻胶作为探测器 ,用 3.2 nm的 X射线进行了二维点阵测试样品的软 X射线衍射实验 ,记录了探测器和样品间隔分别为 0、 2 mm和 80 mm时的图像 ,并用光学显微镜放大观察。实验结果表明 ,探测器记录的图像与探测器和样品之间的距离有关 ,即随探测器和样品之间距离的变化而变化。这与理论模拟的结果一致。