论文部分内容阅读
探索了正电子湮没技术(positron annihilation technique, PAT)测定硫铝酸盐基无宏观缺陷(macro-defect-free,MDF)水泥中微细孔的实验方法.结果表明:正电子湮没中等寿命成分(τ2≈330 Ps)的强度I2随水泥中微细孔(<250 A)等的增加而有规律地增大,因此可用I2的大小来表征硫铝酸盐基MDF水泥的密实程度和结构完整性.同时,还将实验结果与水银压入法(mercury instrusion porosimeter, MIP)测试结果进行了对比.